Tämä tilasto on lakkautettu.
Tilastosta ei enää tuoteta uusia tietoja.
Laatuseloste: Patentointi
- 1. Tilastotietojen relevanssi
- 2. Tilastotutkimuksen menetelmäkuvaus
- 3. Tietojen oikeellisuus ja tarkkuus
- 4. Julkaistujen tietojen ajantasaisuus ja oikea-aikaisuus
- 5. Tietojen saatavuus ja läpinäkyvyys/selkeys
- 6. Tilastojen vertailukelpoisuus
- 7. Selkeys ja eheys/yhtenäisyys
1. Tilastotietojen relevanssi
1.1 Yhteenveto tuotteen tietosisällöstä ja käyttötarkoituksesta
Patentointia kuvaava tilasto sisältää Suomessa haetut ja myönnetyt patentit sekä tietoja suomalaisten hakijoiden kansainvälisestä patentoinnista ja Suomessa haetuista hyödyllisyysmalleista.
Tietoja käyttävät tiede- ja teknologiahallinto ja muut viranomaiset sekä tutkijat. Patentti-indikaattorit ovat keskeisiä innovaatiotoiminnan tuloksia kuvaavia indikaattoreita.
1.2 Keskeiset käsitteet ja luokitukset
Patentti on keksijälle tai keksinnön oikeudenhaltijalle valtuutetun viranomaisen myöntämä määräaikainen (yleensä 20 vuotta) yksinoikeus keksinnön hyödyntämiseen. Patentin myöntämisen ehtona on, että keksinnön on oltava uusi, keksinnöllinen eli ei-ilmeiseen tietoon perustuva ja sovellettavissa teolliseen käyttöön.
Kansainvälinen patenttiluokitus (International Patent Classification) on WIPO:n (World Intellectual Property Organization) ylläpitämä keksinnön teknologiaa kuvaava luokitus. Luokitus käsittää kahdeksan päälohkoa, jotka edelleen jakaantuvat alalohkoihin ja alaryhmiin. Tilastoinnissa käytetään hakemuksissa ensin ilmoitettua ipc-luokkaa.
Yritysten ja yhteisöjen toimialajaottelu perustuu Tilastokeskuksen luokitukseen Toimialaluokitus 2008 (Tilastokeskus, käsikirjoja 4, Helsinki 2008).
Aluetiedot perustuvat hakemuksessa ilmoitettujen keksijöiden osoitetietoihin. Aluetieto määritellään kuntatasolla, mutta julkaistaan maakunta- ja seutukuntatasolla Tilastokeskuksen kulloisenkin vuoden alueluokitusten mukaisesti (Kunnat ja kuntapohjaiset aluejaot, Tilastokeskus, käsikirjoja 28).
1.3 Lait ja asetukset
Tiede- ja teknologiatilastojen tuotannossa sovelletaan tilastolakia (280/2004). Lisäksi tilastojen laadintaa ohjaa EU:n tiede- ja teknologiatilastoja koskeva Komission asetus (EY) N:o 753/2004.
2. Tilastotutkimuksen menetelmäkuvaus
Patentoinnin perustiedot saadaan Patentti- ja rekisterihallituksen toimittamista kotimaisista patenttitiedoista sekä kansainvälisten patenttien osalta Euroopan patenttiviraston Patstat -tietokannasta. Tiedot sisältävät kaikki suomalaisten hakijoiden jättämät hakemukset. Yritysten ja yhteisöjen hakemus- ja patenttikohtaisiin tietoihin lisätään yritystunnus, jonka avulla aineistoa täydennetään Tilastokeskuksen yritysrekisterin tiedoilla.
Aluetietona käytetään OECD:n suositusten mukaisesti hakemuksessa ilmoitettua keksijätietoa. Useamman keksijän tilanteessa aluetieto ositetaan eri kuntiin yhtä suurilla osuuksilla.
Hakija-/haltijatieto määräytyy patenttihakemuksessa ensimmäisenä mainitun hakijan perusteella.
3. Tietojen oikeellisuus ja tarkkuus
Tilaston laadinnassa noudatetaan OECD:n suosituksia.
4. Julkaistujen tietojen ajantasaisuus ja oikea-aikaisuus
Patentointia koskeva tilasto ilmestyy vuosittain. Julkistamisajankohta on tilastovuotta seuraava marraskuu.
5. Tietojen saatavuus ja läpinäkyvyys/selkeys
Tilastotiedot julkaistaan Tilastokeskuksen internet-sivuilla. Erillisselvityksiä tuotetaan asiakkaiden tilauksesta.
6. Tilastojen vertailukelpoisuus
Suomessa haettujen patenttien tilasto alkaa vuodesta 1972. Euroopan patenttiviraston kautta ja Yhdysvalloissa haettujen patenttien tiedot alkavat vuodesta 1985. Myönnettyjen patenttien aikasarja alkaa vuodesta 1990. Nämä aikasarjat sisältävät lisätyt yritysten y-tunnukset. Yritysten tunnusten vaihtumista ja muita yritysmuutoksia ei ole huomioitu, vaan tunnus on kunkin tilastovuoden mukainen.
7. Selkeys ja eheys/yhtenäisyys
Patenttitietojen lähteenä olevan tietokannan tietojen päivityksistä johtuen tiedoissa voi olla eroja Patentti- ja rekisterihallituksen julkaisemiin tilastoihin verrattuna. Saatuja tietoja ei enää päivitetä Tilastokeskuksessa.
Samoin kansainvälisissä vertailuissa voi olla eroja muiden tahojen tuottamiin tilastoihin erilaisista poimintakriteereistä ja tietokantojen päivittymisestä johtuen.
Lähde: Patentointi 2011. Tilastokeskus
Lisätietoja: Mervi Niemi 09 1734 3263, Kari-Pekka Niemi 09 1734 3399, tiede.teknologia@tilastokeskus.fi
Vastaava tilastojohtaja: Leena Storgårds
Päivitetty 1.11.2012
Suomen virallinen tilasto (SVT):
Patentointi [verkkojulkaisu].
ISSN=1797-2051. 2011,
Laatuseloste: Patentointi
. Helsinki: Tilastokeskus [viitattu: 25.11.2024].
Saantitapa: https://www.stat.fi/til/pat/2011/pat_2011_2012-11-01_laa_001_fi.html